RPF用 塩素検査装置
RPFの品質維持には原材料に塩素系のプラスチックが混入していないか、RPF成形品の塩素濃度の検査などが求められます。
RPF用 塩素検査装置は、これまで大型で導入コストの高かった蛍光X線分析装置の機能を限定することで、小型化・リーズナブルな価格を実現しました。
RPF用 塩素検査装置の使用
搬入した廃プラスチック、RPF成形品の塩素濃度の測定に利用されています。また、RPFを受け入れている製紙会社様などでも納品されたRPFの検査にご利用いただけます。
その他、基盤や土壌、焼却灰などの分析も可能です。
RPF用 塩素検査装置の特徴
女性でも楽に持運び
大型試料室で基盤もそのまま分析
半導体検出器は電子冷却方式のシリコンドリフトディテクタ（SDD）を使用し、デジタル計数回路（DSP）との組み合わせで、高分解能・高計数率の測定が可能です。
分析性能を高めるために半導体検出器のエネルギー分解能、計数感度を最高に発揮できる励起光学系の条件を整えています。
- 過剰な機能を省き、低価格を実現。
- 重さわずか9kg！女性でも簡単に持ち運び可能。
- 電源はAC100Vのみ、省電力装置（従来比1/5）。
- SDD検出器搭載で液体窒素や冷却水は不要。
- 試料の形状にかかわらず、非破壊分析が可能。
- 用途に合わせて自在にカスタマイズ可能。
分析例
RPFの塩素分析のほか、貴金属の成分分析、スラグの塩基度管理、RoHS指令の有害重金属分析、土壌中の有害重金属分析などに応用することができます。
RPF用 塩素検査装置の主仕様
| 測定原理 | エネルギー分散型蛍光X線分析法 |
|---|---|
| 測定対象 | 個体・粉体・液体 |
| 測定元素 | Na～U（Na～Ar）オプション真空対応 |
| 試料室形状 | φ165mm×H60mm |
| 試料室雰囲気 | 大気 |
| X線定格出力 | 50kV 0.2mA（MAX） |
| 検出器 | SDD（シリコンドリフトティテクタ） |
| 計数回路 | DSP（デジタルシグナルプロセッサ） |
| 使用条件 | 温度：5～27℃ 湿度：20～75％（結露無きこと） 電源：AC100V 1A（50/60Hz） 接地：D接地 |
| オプション | 真空ポンプ C・MOSカメラ FP法 PC キャリングケース |
| カタログID | E168 |
※ご導入に関しては事前に労働基準監督署への届出が必要です。
※本仕様は改良・改善のため、予告なく変更する場合があります。
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