RPF用塩素検査装置

商品コードE168

過剰な機能を絞り込んで小型化・リーズナブルな価格を実現しました！

蛍光X線方式で廃プラスチックの塩素検査を行います。
RPF原料のプラスチック、RPF成形品の塩素検査に最適です。

RPF用塩素検査装置の使用

RPFの品質維持には原材料に塩素系のプラスチックが混入していないか、RPF成形品の塩素濃度の検査などが求められます。搬入した廃プラスチック、RPF成形品の塩素濃度の測定に利用されています。また、RPFを受け入れている製紙会社様などでも納品されたRPFの検査にご利用いただけます。その他、基盤や土壌、焼却灰などの分析も可能です。

RPF用塩素検査装置の特徴

女性でも楽に持運び
大型試料室で基盤もそのまま分析

半導体検出器は電子冷却方式のシリコンドリフトディテクタ（SDD）を使用し、デジタル計数回路（DSP）との組み合わせで、高分解能・高計数率の測定が可能です。分析性能を高めるために半導体検出器のエネルギー分解能、計数感度を最高に発揮できる励起光学系の条件を整えています。

過剰な機能を省き、低価格を実現。
重さわずか9kg！女性でも簡単に持ち運び可能。
電源はAC100Vのみ、省電力装置（従来比1/5）。
SDD検出器搭載で液体窒素や冷却水は不要。
試料の形状にかかわらず、非破壊分析が可能。
用途に合わせて自在にカスタマイズ可能。

分析例

RPFの塩素分析のほか、貴金属の成分分析、スラグの塩基度管理、RoHS指令の有害重金属分析、土壌中の有害重金属分析などに応用することができます。

RPF用塩素検査装置の主仕様

測定対象	個体・粉体・液体
	エネルギー分散型蛍光X線分析法
測定元素	Na～U（Na～Ar）オプション真空対応
試料室形状	φ165mm×H60mm
試料室雰囲気	大気
X線定格出力	50kV　0.2mA（MAX）
検出器	SDD（シリコンドリフトティテクタ）
計数回路	DSP（デジタルシグナルプロセッサ）
使用条件	温度：5～27℃ 湿度：20～75％（結露無きこと）電源：AC100V 1A（50/60Hz）接地：D接地
オプション	真空ポンプ C・MOSカメラ FP法 PC キャリングケース